立式光学计本仪器是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块，一级精度柱型规及各种圆柱形，球形，线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。

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立式光学计用途

        本仪器是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块，一级精度柱型规及各种圆柱形，球形，线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。
立式光学计技术参数
被测件zui大长度  180 mm
直接测量范围      ≥±0.1 mm
分划板分度值      0.001 mm
总放大倍数         1000×
测量力                (2±0.2) N
zui大不准确度      ±0.00025 mm
仪器体积            300×160×410 mm
仪器重量           30 kg
标准配件    可调带筋园台、可调园平台、带筋固定方台

平面测帽、平面测帽、小球面测帽、刃形测帽

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